Quantitative Trait Loci Associated with Tolerance to Cold-Induced Seed Coat Discoloration in Soybean
| 業績名 | Quantitative Trait Loci Associated with Tolerance to Cold-Induced Seed Coat Discoloration in Soybean |
|---|---|
| 年度 | 2019 |
| 研究機関名 | 地方独立行政法人北海道立総合研究機構農業研究本部 十勝農業試験場 |
| 発表者所属 | |
| 発表者 |
山口直矢ほか |
| 発表論文(都道府県機関) |
Plant & Animal Genome Conference XXVIII,SanDiego,USA,R2.1.11-15 |
| 課題 | |
| カテゴリ |
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