| 業績名 | Identification and validation of quantitative trait loci associated with seed yield in soybean |
|---|---|
| 年度 | 2020 |
| 研究機関名 | 北海道立総合研究機構 十勝農業試験場 |
| 発表者所属 | |
| 発表者 |
山口直矢 |
| 発表論文(都道府県機関) |
Breeding Science.71(3),396-403,2021 |
| 課題 | |
| カテゴリ |