低温着色抵抗性遺伝子Icおよび毛茸色遺伝子Tの集積は白目黄ダイズにおいて高度の低温裂開抵抗性をもたらす

業績名	低温着色抵抗性遺伝子Icおよび毛茸色遺伝子Tの集積は白目黄ダイズにおいて高度の低温裂開抵抗性をもたらす
年度	2020
研究機関名	北海道立総合研究機構　十勝農業試験場
発表者所属
発表者	山口直矢鈴木千賀
発表論文(都道府県機関)	日本育種学会第139回講演会.オンライン開催,2021/3/19-21
課題
カテゴリ	育種大豆抵抗性抵抗性遺伝子