低温による着色粒発生要因の解明（４４）

• 課題番号: 1993001990
• 研究機関名: 北海道農業試験場（北農試）
• 研究分担: 畑作生産・気象反応研
• 研究期間: 継Ｈ０３～Ｈ０５
• 年度: 1993
• 摘要: 白目大豆の品質を大きく低下させる開花期低温による大豆着色粒発生機構の解明を行っている。低温着色粒発生に対して抵抗性の異なる大豆７系統をポットに栽培し、開花期から昼夜１５度の低温処理を２および３週間行った。着色程度には明かな系統間差が認められ、種子の裂皮もほぼ同様の傾向が認められ、またそれらの程度は処理期間が長いほど著しくなった。低温で着色した種子を観察したところ、「臍の緒」の柔組織が崩壊し、臍および周辺の種皮の砂時計細胞が変形したり、ねじれたりしており、このため着色粒では裂皮が多くなっていた。これから着色粒の発生は、開花・受粉後に低温によって種子の発達過程が阻害されることによって生じていると判断した。着色粒発生抵抗性系統は非抵抗性系統に比べ低温による株当り粒数の低下が著しかったが、これは抵抗性系統では低温種子障害で不稔になる粒の割合が高く、障害の軽微であった少数の粒だけが稔実するためと考えられた。
• カテゴリ: 寒地 受粉 大豆 抵抗性