| 課題名 | 画像処理技術等による雑草認識技術の開発(278) |
|---|---|
| 課題番号 | 1993002231 |
| 研究機関名 |
北海道農業試験場(北農試) |
| 研究分担 |
農村計画・農業機械研 |
| 研究期間 | 継H04~H07 |
| 年度 | 1993 |
| 摘要 | 省農薬が可能なスポット雑草防除技術を確立するため、画像処理による雑草と作物の識別法を検討した。求められる技術は、野外の光環境の変化にも対応できることが条件となるので、初年目にあたる4年度は、照度が供試画像処理装置の画像抽出特性に及ぼす影響を調査した。その結果、2値化処理後の特徴値計測で得られた面積、周囲長、重心距離等の実際値との誤差は、適正照度領域ではおよそ2%未満におさまるが、コントラストが低くなる照度領域では誤差が大きくなり、誤差の±の傾向は、照度不足か照度過剰かによって異なることを明らかにした。 |
| カテゴリ | 病害虫 画像処理 寒地 雑草 農薬 防除 |