課題名 | イネ縞葉枯病抵抗性遺伝子の単離(283) |
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課題番号 | 1999002511 |
研究機関名 |
北海道農業試験場(北海道農試) |
研究分担 |
生産環境・ウイ病研 |
研究期間 | 継H10~H12 |
年度 | 1999 |
摘要 | イネ縞葉枯病抵抗性遺伝子Stv-biは日本型イネに導入されて以来、単独で、安定した抵抗性を示している。本研究課題では、イネの第11染色体に座乗している抵抗性遺伝子と密接に連鎖する分子マーカーを利用したポジショナルクローニングによって、抵抗性遺伝子を単離することを目的とする。10年度には抵抗性遺伝子周辺について、18BACクローンからなる約700kb領域の物理地図を作製し、抵抗性遺伝子周辺の複数のRFLP及びSTSマーカーを新たに開発した。さらに、それらの分子マーカーを用いて交雑組換え個体の分析を行った結果、抵抗性遺伝子は物理地図上で約300kb内に存在する可能性が高いことが明らかになった。 |
カテゴリ | 害虫 寒地 縞葉枯病 抵抗性 抵抗性遺伝子 |