イネの低温クロロシスにおける温度センシング機構の解明

• 課題番号: 221
• 研究機関名: 北海道農業試験場
• 研究分担: 作物開発・育種工学研
• 研究期間: 新１２～１４
• 年度: 2000
• 摘要: 低温によるイネのクロロシスは、低温による生育遅延及び花粉形成阻害とほぼ同じ約１８℃を限界温度として起こる温度に鋭敏な反応である。これらの低温傷害反応は増殖分化途中の若い細胞の傷害によものと考えられ、低温によるクロロシスは、葉緑体ＤＮＡ複製阻害が原因であると考えられる。この研究ではイネの低温傷害における温度センシング機構を解明するため、低温による増殖分化途中の組織の遺伝子発現変化から葉緑体ＤＮＡ複製阻害に至る過程を、低温感受性の異なる両親の交雑による組換え固定系統群等を材料として用いて解析し、低温傷害における温度センシングにおいて重要な遺伝子及びタンパク質を解明する。
• カテゴリ: 寒地 センシング