課題名 |
ニホンナシみつ症の診断技術の開発(186) |
課題番号 |
1994001374 |
研究機関名 |
果樹試験場(果樹試)
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研究分担 |
栽培・栽培2研
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研究期間 |
完H01~H05 |
年度 |
1994 |
摘要 |
軽度のみつ症は、外観的にはその発生の有無を判定することは難しい。そこで、みつ症の発生の有無を非破壊的に判定する方法について検討した。工業用X線CTによりみつ症果の発生状況を明確に把握することができた。しかし、放射線取扱いの資格が必要であるため実用化は難しいと考えられた。そこで100KHzの超音波を発信する低周波超音波探傷器(日立建機KK、DT500型)を用いて果肉内の伝搬速度について検討した。みつ指数が高い果実では超音波伝搬速度が早まり、両者の間に一定の関係があることが推測された。複数箇所の測定を行うことによってより安定した判定法が確立できるものと考えられた。一方、みつが発生した果実は、果皮色が変化することから、瞬間マルチ測光システム(大塚電子KK、MCPD-110)により果皮の反射スペクトルを測定した。みつ症果では550~650nm及び750nm以上の光反射率が正常果より低くなることから、区別が可能であることが示唆された。さらに、みつ症部分は透過光の吸収が低いことから、透過光の画像を得ることによってかなり明確に判定できることが明らかになった。これらの成果は機関誌等に発表する予定である。
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カテゴリ |
栽培技術
診断技術
成熟異常
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