低温障害発生機構の解明に基づくカンキツ果皮の貯蔵障害回避技術の開発（１５５）

• 課題番号: 147
• 研究機関名: 果樹試験場
• 研究分担: カンキツ・栽培生理研
• 研究期間: 継１１～１３
• 年度: 2000
• 摘要: 貯蔵中に発生する‘清見’の果皮障害「こはん症」は、フラベド組織の細胞の変形・崩壊を来たし、特に油胞を構成する細胞の崩壊が著しかった。ポリ袋個装処理によって果皮障害は抑制されるがエチレン発生量には変化が見られなかった。果皮で発現しているm-RNAの解析によると、こはん症部位で果皮の細胞崩壊に伴いリグニン生成が誘導されている可能性が推測され、健全部位でもストレスを受けた植物葉と同様の耐性機構が作用していた可能性が示唆された。また、‘清見’は、乾燥予措を避け冷温高湿貯蔵を実施することにより果皮障害が抑制され、５ヶ月以上の長期にわたり商品性が維持された。
• カテゴリ: 乾燥 その他のかんきつ