低温障害発生機構の解明に基づくカンキツ果皮の貯蔵障害回避技術の開発（１４７）

• 課題番号: 129
• 研究機関名: 果樹試験場
• 研究分担: カンキツ・栽培生理研
• 研究期間: 止１１～１２～（１３）
• 年度: 2000
• 摘要: ‘清見’果実の貯蔵中に発生する果皮障害について、フラベド組織の形態的変化、エチレン発生との関連、ポリ袋個装および果皮クチクラ除去による影響が明らかとなった。貯蔵中のカンキツ果皮で発現しているm-RNAの解析手法が確立され、他の植物において乾燥等のストレスにより発現する遺伝子と相同性の高い遺伝子が発見された。相対湿度９８％とする冷温高湿貯蔵により、‘清見’の商品性を５ヶ月以上の長期間維持することが可能となった。今後、各種遺伝子の発現パターンを解析する。貯蔵後の品質維持についても検討をすすめる。 本課題は農業技術研究機構果樹研究所へ引き継ぐ。
• カテゴリ: 乾燥 その他のかんきつ