培養及び放射線照射変異のサトウキビさび病抵抗性検出法の開発(203)

課題名 培養及び放射線照射変異のサトウキビさび病抵抗性検出法の開発(203)
課題番号 177
研究機関名 九州農業試験場
研究分担 作物開発・きび育種研
研究期間 止9~12~(14)
年度 2000
摘要 さび病罹病性のNi1とさび病抵抗性の突然変異系統M1、M2の間で認められたDNA多型のさび病抵抗性判定に対する有効性を確認すると共に、遺伝様式を明らかにするために、抵抗性品種NiF8と感受性品種NiF5の後代を1438個体、抵抗性NiF3とNiF5の後代を244個体作出して圃場での抵抗性を評価した。NiF8とNiF5の後代では、78%が発病しなかった。NiF3とNiF5の後代では発病しなかった個体は79%であった。圃場での発病とRAPDによるDNA多型とは結果が一致しなかった。圃場での発病が不安定で判定が不正確であったことに問題があると推察されることから、平成13年度は,さび病検定圃場を用い、高い発病条件の下で抵抗性を判定し、DNA多型との関係を評価する。また、平成12年度できなかったSTS化を再度試みる。(研究機構-九沖農セ)
カテゴリ 育種 遺伝資源 加工 さとうきび 抵抗性 抵抗性品種 品種

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