Scanning near-field optical/atomic force microscopy (SNOM/AFM) -Is it an innovative method for chromosome structure analysis at the nano-meter scale level?
| 業績名 | Scanning near-field optical/atomic force microscopy (SNOM/AFM) -Is it an innovative method for chromosome structure analysis at the nano-meter scale level? |
|---|---|
| 年度 | 2002 |
| 研究機関名 | 食品総合研究所 |
| 発表者所属 | |
| 発表者 |
大谷敏郎 萩原昌司 小堀俊郎 |
| 発表論文(都道府県機関) | |
| 課題 | DNA上の遺伝子存在位置の高分解能計測技術の開発 DNA上の遺伝子存在位置の高分解能計測技術の開発 |
| カテゴリ |
用語の事典として使えます。
