イネの第6染色体に座乗する障害型耐冷性遺伝子の詳細な位置

• 担当機関: 青森県農林総合研究センター
• 研究期間: 2002～2003
• 研究担当者: 須藤 充; 神田伸一郎; 坂井 真
• 発行年度: 2003
• 要約: ジャワ型品種「Pakhe Dhan」に日本稲を戻し交雑した雑種集団を用いて、第6染色体上の約4.2cM間の領域に、「Pakhe Dhan」由来の障害型耐冷性遺伝子が存在することを明らかにした。この遺伝子を導入すると、低温処理時に稔実率が向上する。
• キーワード: イネ、DNAマーカー、QTL、耐冷性、Pakhe Dhan、第6染色体
• 背景・ねらい: 寒冷地稲作において耐冷性は重要形質であり、冷害を克服するために、高度耐冷性を持つ優良品種の育成が強く望まれている。近年のイネゲノム解析の進展により、DNAマーカーを用いた遺伝子の探索、導入が可能となり、様々な形質について試みられている。本研究では、高度耐冷性を持つ「Pakhe Dhan」由来の、数個の耐冷性に関する量的形質遺伝子座（QTL）のうち、第6染色体に検出したQTLの座乗位置の決定を行った。

成果の内容・特徴

1. ネパール原産のジャワ型品種「Pakhe Dhan」に日本型系統「ふ系175号」を戻し交配した後代を用い、「Pakhe Dhan」由来のQTLを第6染色体上のDNAマーカーFP0621付近に検出し、qFLT-6（QTL controlling Fertility under Low Temperature on chromosome 6）と命名した（表1、図2）。
2. 遺伝子背景が「ふ系175号」で第6染色体上のDNAマーカーFP0611～FP0605の領域のみが分離する集団を用いた解析により、qFLT-6はDNAマーカーFP0612とFP0613の間、約4.2cMに座乗することが明らかになった（図1）。
3. qFLT-6は、供試集団の解析より、低温処理時に稔実率を20％程度向上させる作用を持つと推定される（推定値はMapmaker/QTLの算出による、表1）。
4. 遺伝子背景が「ふ系175号」で、第6染色体のqFLT-6を含む領域をやや広く「Pakhe Dhan」型に持つ、03PM138（図1）では、出穂期、稈長、収量等はほぼ「ふ系175号」と同じだが、恒温深水法による耐冷性検定において、稔実率では約20％、耐冷性のランクは「ふ系175号」を2ランク上回った（表2）。

成果の活用面・留意点

1. qFLT-6は障害型耐冷性の向上に有用な遺伝子と考えられ、その効果を実証するためにqFLT-6近傍領域のみを「Pakhe Dhan」ホモ型にもつ同質遺伝子系統を現在育成中である。
2. qFLT-6を「ふ系175号」以外の品種・系統に導入した場合の効果については未検討である。

• カテゴリ: DNAマーカー 凍害 品種